SEB2探頭特點：

用於(yu) 探測棒材、坯塊、杆等中心缺陷的標準探頭。經常用作在中等和大尺寸物體(ti) （如鍛造或鑄造的物體(ti) ）中預期區域內(nei) 缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適合於(yu) 用作與(yu) 物體(ti) 平麵平行的缺陷區域精確範圍的確定（如層狀結構缺陷、渣孔及厚鋼板中的他隔線）。

具體(ti) 型號有：

SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O°

雙晶直探頭主要應用：

通常：近表麵的小缺陷探測和評估。焦點內(nei) 大缺陷以及平行於(yu) 表麵分布的缺陷檢測。剩餘(yu) 壁厚的測量（即使在高溫情況下）。

l 壁厚餘(yu) 量，鏽蝕、腐蝕

l 近表缺陷檢測

l 小零件—螺釘，螺栓，銷釘

l 覆層和堆焊層

l 粘接檢測

l 軸，杆，方坯芯部缺陷

l 粗晶材料

雙晶探傷(shang) 儀(yi) 直探頭主要特性：

l 近表分辨率

l 與(yu) 曲麵和粗糙麵耦合好

l 散射噪聲較小

l 對曲麵工件也能沿其輪廓進行檢測

l 歐款有側(ce) 裝Lemo 00連接口，SEB..KF型Microdot側(ce) 裝

l 美款有固定BNC電纜（ADP）或側(ce) 裝MMD（FDU）

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