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當前位置:首頁 > 產品展示 > 無損檢測 > 粗糙度儀 > SJ-310表麵粗糙糙度儀 光潔度測量儀

產(chan) 品名稱:表麵粗糙糙度儀(yi) 光潔度測量儀(yi)

產(chan) 品型號:SJ-310

更新時間:2023-12-17

產(chan) 品特點:日本三豐(feng) SJ-310表麵粗糙糙度儀(yi) 光潔度測量儀(yi) JIS/DIN/ISO/ANSI 兼容 36 個(ge) 評價(jia) 參數和 3 個(ge) 分析圖表

SJ-310表麵粗糙糙度儀 光潔度測量儀的詳細資料:

日本三豐(feng) SJ-310表麵粗糙糙度儀(yi)  光潔度測量儀(yi)

特點

● 便於(yu) 操作的觸摸屏

● 內(nei) 置打印機和充電電池

● JIS/DIN/ISO/ANSI 兼容 36 個(ge) 評價(jia) 參數和 3 個(ge) 分析圖表

● 探針行程達 350mm

● 具有統計處理功能

● 帶有 SURFPAK-SJ 軟件的 PC 連接端口

● 自動休眠功能可有效節約能源。

日本三豐(feng) SJ-310表麵粗糙糙度儀(yi)  光潔度測量儀(yi) 技術指標:

型號

SJ-310

SJ-310

檢測器測力

0.75mN

4mN

評價(jia) 長度

12.5mm

測量範圍

350mm(-200um-+150um)

驅動部 / 檢測器

檢測器: 178-395/178-390
探針:鑽石型 ( 針尖半徑: 2um/5um)
檢測方式:微分感應

評定輪廓

P,R,DIN4776 , MOTIF.R,MOTIF.W

評價(jia) 參數

Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,Rpk,Rvk,Sc,Rk,Mr1, Mr2,Lo,Ppi R,AR, Rx,A1,A2,Vo,HSC.,mrd,sk,Ku,Da,Dq,Wte,Wt,W,AW ( 不允許用戶自定義(yi)  )

粗糙度標準

JIS,DIN,ISO,ANSI

數據過濾

2CR-75%,2CR-75%PC,Gaussian-50%

截至波長

l c:0.08,0.25,0.8,2.5,8mm
l s:2.5,8,25mm

取樣長度 (L)**s

0.08,0.25,0.8,2.5,8mm

取樣段數

× 1, × 3, × 5, × L

顯示

液晶顯示

數據輸出

通過 RS-232C 端口 /SPC 數據輸出

電源

通過 AC 適配器 / 電池 ( 可更換 )

尺寸 (Dxh)

307 × 165 × 94mm

重量

1200g

 

 

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