JB4040表麵汙染檢測儀(yi) 簡介：

JB4040型智能化β、γ表麵汙染檢測儀(yi) ，適用於(yu) 低水平β、γ輻射表麵汙染檢測，同時也適用與(yu) X、γ輻射劑量率的監測。儀(yi) 器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；是環境實驗室、核醫學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲(chu) 存和商檢等領域進行α，β輻射表麵汙染檢測或X，γ輻射防護監測的儀(yi) 器，該儀(yi) 器采用單片機控製，LCD液晶顯示，讀數清晰、操作方便。特點 GM探測器陣列，探測效率高 便攜式設計，重量輕 單片機控製，軟件功能強 LCD液晶顯示，會(hui) 話式操作界麵 計數率顯示cpm、cps、μSv/h 電池失效報警

主要技術指標：

計數範圍：1～1000000 

顯示單位：cpm、cps、μSv/h 

探測器麵積：35cm2 靈 敏 度：≥500cpm/μSv/h 

劑量率範圍：0～200.00µSv/h 

儀(yi) 器本底：β≤130 cpm 

相對誤差：測量範圍內(nei) 相對基本誤差≤20% 

供電電源：2節1.5v普通1號電池，整機電流≤60mA 

溫度範圍：-10℃～45℃ 

濕度範圍：相對濕度≤90%（40℃） 

尺寸重量：0.64kg;20×10×5（cm）